FISCHER—让测量变得简便
现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供理想的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式仪 器,配合各种探头使用,可以简单、快速地测量涂镀层的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感应法、涡流法和BETA背反射法的多功能测量系统,用于测量镀层厚度和材料测试。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射线荧光法,用于测量镀层厚度和材料分析 。
涂镀层测厚仪:
膜厚测量: 无论是在铁磁性材料上还是在非铁磁性材料上测量涂层厚度或电镀层厚度, 您都可以在FISCHER功能强大的手持式仪器分类中找到合适的便携式测厚仪。 无论您有什么样的测量需求,又或者要面对多少种不同的基体材料, FISCHER 的仪器和探头必能让您的测量手到擒来。根据您的需求选择合适的型号,点击查 看详细信息,如有任何疑问,或是想了解fischer更多产品信息,如:可选探头、 校准片、X-RAY膜厚仪、孔隙率测试仪等欢迎在线留言或来电咨询! 021-58951071
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fischer膜厚仪MP0 |
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膜厚仪MP0R/MP0R-FP |
•无需校准即可测量。 |
通过USB端口可以与电脑相连,探头由连接电缆连接:
※ 仪器集成了探头,便于操作,出色的重复精度 |
FMP10 |
FMP20 |
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FMP30 | FMP40 |
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手持式FMP系列是基于磁感应法(DELTACOPE),电涡流(ISOSCOPE)和两用方法(DUALSCOPE), 采用了可更换探头的设计,非常适用于对涂镀层进行无损测量。仪器的模块化设计,可供客户根据不同的测量需求选配不同的测量系统.除了众多的测厚仪机型之外, FISCHER公司还向客户提供大量不同功能的高精度探头. DeltascopeFMP10和FMP30机型适用于测量铁基体上涂镀层厚度。 Isocope FMP10和FMP30机型是专为高精度测量非铁 金属上的超薄涂镀层厚度而设计的。Dualscope FMP20和FMP40机型可以测量几乎所有金属底材上的涂镀层厚度。 |
FMP10和FMP20型测厚仪是专业便携式测量系统中的入门级机型, 是现场检查和控制测量的理想选择。它们操作简便,机体坚固并 配有一块高对比度彩色显示屏和一个USB端口,可以轻松地将测 量数据传输到电脑,并通过便利的FISCHER DataCenter软件进 行计算和储存.FMP30和FMP40型仪器为测量数据的获取提供了多的策略,为储存客户自定义的测量应用提供更多的空间*多可以储存20000个数据,更是提供了蓝牙数据传输功能。大量的图形和统计功能使其能更适用于复杂的测量应用. 另外仪器可以根据内置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT规则进行测量。 |
Dualscope FMP100/150 |
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Dualscope FMP100是一款功能强大、界面友好的涂镀层测厚仪,可以满足众多不同的测量需求。它集成了磁感应法和电涡流法于一体并可装配各种不同的高精度探头,即使在不断变化的测量条件下,它都能很好的完成各种测量任务。它采用的Windows™ CE操作系统,拥有图形用户界面和高分辨率的触摸显示屏,并配备了可储存几千个测量程式的存储空间和众多的统计计算功能,使其成为专业涂镀层测试领域的很好解决方案。无论是用于汽车业、电镀业、阳极氧化应用、防腐层耐用性测试还是精细涂层领域,在所有情况下,这款仪器一定会为您提供高的准确度和精确性。DualscopeFMP150进一步配备了第三种测量原理,即磁性法。它除了采用磁感应法和电涡流法测量涂镀层厚度外,还可以测量非磁性金属底材上镍镀层的厚度。 |
SR-SCOPE® RMP30-S铜箔测厚仪 |
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COULOSCOPE® CMS2库仑测厚仪 |
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通过电阻法无损测量印制电路板上铜镀层的厚度。由于仪器能不受中间铜层和背面铜层的影响,因而特别适合多层板及超薄板上顶层铜箔厚度的测量。 |
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CMS 型仪器可以快速、精确地测量任何基材上几乎所有金属镀层的厚度,甚至是多镀层的厚度。它的测量是一个 通过库仑法进行反电镀的过程。仪器采用了菜单式界面、 操作简便是对电镀产品质量监控和来料检验的理想选择。CMS2 STEP型仪器用于对镀层厚度和电位差进行标准化 STEP测试。 例如:对多层镍产品的质量控制。STEP (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) 是一种针对多层镍系统,在测量每个单独的镀层厚度的同时还能测定相邻镀层的电位差的方法。对于镀层厚度的测量是基于库仑法,而电位曲线则是使用带有AgCl镀层的银制参比电极进行测量。 |
PHASCOPE® PMP10/PMP10 Duplex |
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主要用于在电镀和PCB行业中对各种基材上的金属镀层的厚度进行质量控制。无论样品表面是否平滑, PMP10都可以精确测量铁基材上的镀镍层、镀铜层和镀锌层的厚度; 它还能对印制电路板上的铜层厚度,甚至是孔内铜层的厚度进行测量。PMP10 Duplex型仪器是专为汽车行业测量双镀层而开发的(例如:油漆/Zn/Fe)通过一次测量就能同时获得和显示两层涂镀层各自的厚度。它还可以测量铝材上油漆层的厚度。
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FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 |
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带内置 Windows™ CE操作系统和网络互联功能的台式多功
能测量系统,尤其适合于无损,高精度的镀层厚度测 量及 |
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在配备了合适的测量模块后, MMS PC2可灵活运用于来
料检验,出厂检验,或是生产控等。能提供多种数据报告方
式,并通过FISCHER的FDD软件进行质量过程控制.还可以
方便建立自动测量,因为测量系统可以直接控制马达的
测量台或XY样品台,并通过LAN及I/O模块嵌入自动生
产线。
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