产品描述
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220/222,X射线荧光测量仪，用于快速、无损分析黄金和银合金：
X射线荧光测量仪用于金银合金快速无损分析及镀层厚度测量，菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一种优化的X射线荧光测量仪器，用于珠宝、硬币和贵金属的无损分析。它特别适合分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。在氯（17）到铀（92）范围内可同时测定多达24种元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。我公司还经营世界著名品牌的进口全新设备如：英国泰勒霍普森 （Taylor Hobson）、捷克吉尔斯派克 （gearSpect Group）、德国菲希尔 （Helmut Fischer）、德国EPK、荷兰InnovaTest、瑞士TRIMOS、美国奥林巴斯（ Olympus）、美国雷泰( Raytek)等世界著名厂家生产的粗糙度仪、圆柱齿轮测量仪、涂镀层测厚仪、各种硬度计、测高仪、超声波探伤仪、DO-2 K PC锥齿轮单面啮合测量仪等。欢迎在线留言或来电咨 询！！
产品特点：
• 菲希尔XAN220型X射线金属材料分析仪为无损分析珠宝、钱币和贵金属特别优化设计；• 配备固定的准直器和基本虑片，特别适用于贵金属分析
• 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，适用于更复杂的多元素分析
• 由下至上的测量方向，可以*简便地实现样品定位
典型应用领域包括：
• 珠宝、贵金属和牙科合金• 黄白色黄金
• 铂和银
• 铑
• 合金和涂层分析
• 多层涂层分析
所有菲希尔X射线系统的特点是具有出色的精度和长期稳定性。重新校准的必要性大大降低，节省了时间和精力。现代硅漂移探测器实现了高精度和良好的检测灵敏度。菲希尔的基本参数法允许在不进行校准的情况下分析固体和液体样品以及涂层系统。Xan220是一款用户友好的台式仪器。样品定位快速方便。X射线源和半导体探测器组件位于仪器的下部，因此测量方向从样品下方开始，样品由透明窗口支撑。
| 预期用途 |
能量色散X射线测量仪（ED XRF）用于分析贵金属及其合金的成分和涂层厚度。 |
| 元素范围 |
硫S（16）至铀U（92）–同时多达24种元素 |
| 重复性 |
对于金≤0.5‰，测量时间60秒 |
| 设计 |
台式单元，带有向上打开的罩 |
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测量方向 |
自下而上 |
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X射线管 |
带铍窗的微焦点钨管 |
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高电压 |
3 steps：30 kV，40 kV，50 kV;*大阳极电流：1 mA |
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光圈（准直仪） |
Ø 1 mm (39 mils), 可选Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils) |
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测量点 |
Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米） |
814294500
