产品描述
XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列仪器是用户界面友好的台式测量仪, 配备手动XY轴工作台，用于细小样品的精确定位。
FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列荧光镀层测厚仪介绍：
多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50 nm Au或100 μmSn）都通过选择好的高压滤片组合很好地测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100 μm的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。对于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，这样可以快速方便地定位样品。除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。尽管结构紧凑，但这些仪器都有大容量的测量室，这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法完全放入测量室，样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度更高的手动XY工作台上。
XUL和XULM都配备了比例接收器；但是它们配备的X射线管，滤片和准直器是不同的。便宜耐用的XUL配备了一个准直器和一个固定的滤片。内置的标准X-RAY管产生的基本射线光束较大；因此小可用的准直器为0.3 mm。基于光线的扩散，小的测量点在0.7 mm – 1mm左右。
特征:
□ 带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。*高工作条件:50KV,50W
□ X射线探测器采用比例接收器
□ 准直器：固定或4个自动切换，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
□ 基本滤片：固定或3个自动切换
□ 测量距离可在0-27.5mm范围内调整
□ 固定的样品支撑台或手动XY工作台
□ 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
□ 设计获得许可，防护全面，符合德国X射线条例第4章第3节
典型应用领域：
□ 线路板行业Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等镀层的测量
□ 电子行业接插件和触点的镀层测量electronics industry
□ 装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
□ 批量生产部件（螺丝和螺母）防腐镀层测量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe
□ 珠宝和手表行业
□ 测定电镀槽中的金属含量
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