德国菲希尔XDV-μ X射线荧光镀层测量仪

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

带有多多毛细孔X射线聚焦装置的X射线荧

光测量仪，用于测量非常小的组件和结构

仪器介绍：

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ测量系统拥有先进的多毛细孔
X射线聚焦装置，既能有效地缩小测量点的面积，又能大幅
加强射线的强度。仪器配备了大面积硅漂移探测器，特别适
用于在小工件上测量非常薄镀层的厚度或者进行痕量分析。
为了使每次测量都能在*佳激励条件下进行，XDV-μ系统特意
配备了4个可切换的基本滤片。

XDV-μ测量空间宽大，样品放置便捷，特别适合测量平面和
大型板材类的样品，还特意为面积超大的板材类样品（例如
大线路板）留有一个开口（C型槽）。连续测试或镀层厚度
和元素分布的测量都可以方便地用快速可编程XY工作台完成。

操作很人性化，测量门带有大观察窗，并能大角度开启，仪器
前部控制面板具备多种功能，日常使用轻松便捷。带有三种放
大倍率变焦的高像素视频系统能精确地定位样品，即使是非常
细的线材或者是半导体微小的接点都能高质量地显示出测量点
所在位置。激光点作为辅助定位装置进一步方便了样品的快速
定位。良好的性能和测量很小样品的专长使得XDV-μ仪器成为
研究开发、质量认证和实验室的理想选择，同时也是质量控制
和产品监控必不可少的设备。

特征：

应用实例：

典型应用领域：

SMD元器件：铅含量检测

线材：Sn/Cu

引线框架: Au/Pd/Ni/CuFe

晶片：Au/Pd/Ni/Cu/Si-晶片