1984年推出的Form Talysurf是*台能够同时测量表面粗糙度、形状和轮廓的仪器。现在,我们新发展的Form Talysurf系列测量系统强化了Taylor Hobson的地位,并创建了评价表面粗糙度和形状的新的标准。通过全毫米范围、可互换测针的广泛选择以及已获的标定程序,该电感式系统适用 于几乎所有高精度应用。用于表面粗糙度和轮廓测量的高分辨率测量系统是众多汽车、轴承、齿轮等行业应用的理想选择。1984年推出的Form Talysurf是*台能够同时测量表面粗糙度、形状和轮廓的仪器。现在,我们新发展的Form Talysurf系列测量系统强化了Taylor Hobson的地位,并创建了评价表面粗糙度和形状的新的标准。通过全毫米范围、可互换测针的广泛选择以及已获的标定程序,该电感式系统适用 于几乎所有高精度应用。Form Talysurf i系列是用于表面粗糙度和轮廓测量的自动化检测系统,具有低噪音轴和高分辨率传感器,表面粗糙度和轮廓测量合二为一,通过选择不同类型的传感器,能够为各种应用提供多样化的方案,是众多汽车、轴承、齿轮等行业应用的理想选择。
●表面粗糙度和轮廓测量合二为一
Form Talysurf i系列是一台能够同时测量表面粗糙度和轮廓的高精度仪器。该系统的低噪音和高分辨率传感器能够确保测量的完整性,通过选择不同类型的传感器,能够为各种应用提供多样化的方案。
●为您的应用量身定制
从螺钉螺纹到曲轴、从气缸体到阀门导管,选择适合您的配置满足您的应用需求。
●温度补偿
作为所有i系列的标准配置,这个独特的系统能够监控和反馈环境温度的变化,确保在任何环境下,测量的稳定性和完整性能够得到充分发挥。
●可重复测量的结果
拥有多年行业经验,精密加工的专业知识以及 FEA优化设计的*结合,能够提供低噪音,且近乎*的机械测量精度。通过可溯源的标准器和专有计算法则,能够进一步有效地消除仪器本身带来的影响从而得到更加准确的测量结果。
应用包括:
》形状分析*:测量和评价半径、角度(坡度)以及尺寸
》 简单的用户界面*:和系统的可编程性结合,可以提供一个真正的车间现场解决方案。可提供定制设计。
》 双轮廓分析软件*:允许测量结果之间的比较,以分析磨损、公差等。
》 Ultra Contour 专用轮廓分析:独自的软件用于尺寸分析,允许设计数据和测量结果直接比较,并得到误差。也可以提供特殊的硬件用于大量程的应用。
》Talymap 3D分析:独自的软件用于三维形貌分析。需要另外定购特殊的硬件。
一套包括哥特式弧的完整分析软件,使用户能够很容易地对工件进行准确的评测。无论您将本产品运用于测量粗糙度、半径、三维轮廓、物料比例,还是哥特式弧的测量,分析软件都将大幅优化您的设备功能,使其满足您的使用。
i60 | i120 | i200 | |
横向扫描长度: | 0.1mm-60mm | 0.1mm-120mm | 0.1mm-200mm |
直线度不确定度: | 0.06 μ m +0.007 μ m/mm | 0.5 μ m/ 120mm | 0.75 μ m / 200mm |
水平方向小数据采样间隔: | 0.25 μ m | 0.125 μm | |
机动垂直立柱行程: | 450mm(标准),700mm( 选购) | ||
粗糙度参数: |
R3y、R3z、Ra、Rc、Rda、Rdc、Rdq、RHSC、Rku、RIn、RIo、Rlq、Rmr、Rmr(c)、 Rp、RPc、Rq、RS、 Rsk、RSm、Rt、Rv、RVo、Rz、Rz(JIS) |
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波纹度参数: |
Wa、Wc、Wda、 Wdc、 Wdq、 WHSc、Wku、WIn、WLo、Wlq、Wlq、Wmr、Wmr(c)、 Wp、WPc、Wq、WS、 Wsk、WSm、Wt、Wv、WVo、Wz |
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未滤波参数: |
Pa、Pc、Pda、Pdc、 Pdq、PHSC、 Pku、 PIn、 PLo、Plq、 Pmr(c)、 Pp、PPc、Pq、PS、Psk、 PSm、Pt、 Pv、 PVo、Pz、Pz(JIS) |
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R&W参数: | Ar、Aw、Pt、R、Rx、Sar、 Saw、Sr、 Sw、W、Wte、Wx | ||
Rk参数: | A1、A2、Mr1、Mr2、Rk、Rpk、Rvk | ||
滤波器: | ISO2CR滤波器,2CRPC滤波器和Gaussian(高斯)滤波 | ||
半径测量不确定度: | 0.1 - 22mm=名义值的1%至0.015%; 22- 1000mm=名义值的0.02%至0.1% | ||
角度测量的不确定度: | 0.5弧分(+/- 35°大范围) | ||
表面粗糙度参数的不确定度: | 2% +4nm (仅适用于峰值参数) | ||
宽范围传感器(选配)类型: | 电感式 | ||
分辨率: | 28mm量程时427nm, 5.6mm量程时85nm, 1.1mm 量程时17nm | ||
垂直测量量程: | 28mm(使用1mm直径球形测头测量平行于基准的玻璃平晶的直线度) | ||
范围/分辨率: | 65,536:1 |